91视频免费观看网站,成人小视频在线免费观看,欧美精品在线免费

您的位置： 首頁 > 產(chǎn)品中心 > bruker >

產(chǎn)品目錄

PRODUCT CENTER

bruker

x射線衍射儀電流面內(nèi)隧穿測試儀橢偏儀紅外光譜臺(tái)階儀摩擦磨損試驗(yàn)機(jī) 光學(xué)輪廓儀納米壓痕儀原子力顯微鏡查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

SmartProber TTBruker隧穿磁比率測量儀

布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber TT 具有平面內(nèi)磁鐵的低成本臺(tái)式 CIPT 系統(tǒng)，適用于研究和開發(fā) 這種低成本的臺(tái)式設(shè)備配有手動(dòng) xy 定位、全自動(dòng)探頭著陸、平面內(nèi)磁鐵和抗震臺(tái)。

更新日期：2024-12-02訪問量：2647廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
SmartProber-P1Bruker隧穿磁比率測量儀

布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber-P1 ——用于企業(yè)研發(fā)和故障分析中 300mm 晶圓應(yīng)用的電動(dòng)系統(tǒng)

更新日期：2024-12-02訪問量：2350廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE

Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE ——用于幾乎所有先進(jìn)薄膜或產(chǎn)品晶片測量的先進(jìn)多模計(jì)量 FilmTek™ 2000標(biāo)準(zhǔn)桿數(shù)-SE光譜橢圓偏振儀/多角度反射儀系統(tǒng)結(jié)合了FilmTek技術(shù)，為從研發(fā)到生產(chǎn)的幾乎所有先進(jìn)薄膜測量應(yīng)用提供了業(yè)界的精度、精度和多功能性。其標(biāo)準(zhǔn)的小點(diǎn)測量尺寸和模式識(shí)別能力使該系統(tǒng)成為表征圖案化薄膜和產(chǎn)品晶片的理想選擇。

更新日期：2024-12-02訪問量：3062廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
Bruker FilmTek CD橢偏儀

Bruker FilmTek CD橢偏儀 ——多模態(tài)臨界尺寸測量和先進(jìn)薄膜計(jì)量學(xué) FilmTekTM CD光學(xué)臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設(shè)計(jì)節(jié)點(diǎn)及更高級(jí)別的全自動(dòng)化、高通量CD測量和高級(jí)薄膜分析。該系統(tǒng)同時(shí)提供已知和*未知結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)多層堆疊特性和CD測量。 FilmTek CD利用多模測量技術(shù)來滿足與開發(fā)和生產(chǎn)中最復(fù)雜的半導(dǎo)體設(shè)計(jì)特征相關(guān)的挑戰(zhàn)性需求。

更新日期：2024-12-02訪問量：2861廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV

Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV FilmTek™ 2000M TSV計(jì)量系統(tǒng)為先進(jìn)的半導(dǎo)體封裝應(yīng)用提供了速度和精度組合。該系統(tǒng)為各種封裝工藝和相關(guān)結(jié)構(gòu)的高通量測量提供了測量性能和精度，包括表征抗蝕劑厚度、硅通孔（TSV）、銅柱、凸塊和再分布層（RDL）。

更新日期：2024-12-02訪問量：2655廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系

共 40 條記錄，當(dāng)前 4 / 8 頁首頁上一頁下一頁末頁跳轉(zhuǎn)到第頁