簡要描述：bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200融合了高級表征、可定制選項和易用性，可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于計量的小尺寸系統，配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。
所在城市：國外廠商性質：代理商更新日期：2025-09-07訪 問 量：3845| 品牌 | Bruker/布魯克 | 價格區間 | 100萬-200萬 |
|---|---|---|---|
| 產品種類 | 接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 化工,電子/電池,綜合 | 重量 | 67kg |
| 垂直分辨率 | <0.01 nm | 樣品高度 | ≤100 mm (4 in.) |
| XY樣品臺 | 150mm | Z軸聚焦 | 自動 |
| 臺階高度準確性 | <0.75% | 放大器 | 0.55X，,075X,1X,1.5X,2X |
| 尺寸 | 480mmx604mmx754mm |
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200融合了高級表征、可定制選項和易用性，可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于計量的小尺寸系統，配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200還配有業界先進的操作和分析軟Vision64。新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可訪問多種預編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。
優質的測量與分析功能
·易于使用的界面，可快速準確地獲得結果
·自動化功能用于日常測量和分析
·廣泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關鍵尺寸測量分析
·滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告
先進計量設備
·基于超過四十年的專有WLI創新，ContourX-200光學輪廓儀展現出定量計量所需的低噪聲、高速、高精度的準確結果。
·通過使用多個鏡頭和集成的特征識別功能，設備可以在各種視野內以亞納米垂直分辨率跟蹤特征，可用于各種不同行業中的質量控制和過程監控應用。
高性能表面計量
·放大倍率無關的業界好Z軸分辨率
·大尺寸的標準視場
·穩定集成防震設計
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